Детальні технічні параметри комп'ютерного мікроскопа CMM-EA

1. Використання:

　　CMM-EAСерія метафазних мікроскопів оснащена плоскими об'єктами, окулярами з великим полем зору, чітким зображенням, хорошою підкладкою та повним оптичним збільшенням. В основному використовується для визначення та аналізу внутрішніх структурних тканин металу, визначення якості лиття; перевірка сировини на ринку або металофазний аналіз після обробки матеріалу; Спостереження та аналіз стану поверхні, таких як розщеплення поверхні, тріщини. Широко використовується в лабораторіях гірничодобувних підприємств, ключових лабораторіях вищих навчальних закладів та наукових досліджень.

II. Профіль системи

Ця система є органічним поєднанням традиційного оптичного мікроскопу з комп'ютером (цифрова камера) за допомогою фотоелектричного перетворення, не тільки для мікроспостереження на окулярах, але і для спостереження за динамічними зображеннями в реальному часі на екрані комп'ютера (цифрова камера), а також для редагування, збереження та друку необхідних зображень.

Технічні параметри:

1. окуляри

2. Об'єкти

3. Загальне помноження

Оптичне збільшення: 50х 100х 200х 400х 600х 800х 1000х 1200х 2000х

Системне посилання збільшення: 100X-2600X

Розмір: 200 мм * 152 мм; Діапазон руху: 30 мм * 30 мм; Диаметр пластини: Ф15, Ф20 мм

5. Система фокусування: coaxial товщина мікро-рух з обмеженням і регулювання розтягування пристрою, мікро-рух значення 0,002 мм

Диапазон регулювання розстані зорця: 53-75 мм

7. кольоровий фільтр: жовтий, зелений, синій

Система освітлення: галогенні лампи 6V / 20W, регульована яскравість, змінний струм 220V (50Hz)

9. протицвіль: унікальна система протицвіль

4. Склад системи:

　　Комп'ютерний мікроскоп:1, металофазний мікроскоп 2, адаптуюче дзеркало 3, камера (CCD) 4, A / D (збір зображень) 5, комп'ютер

　　Металофазний мікроскоп типу цифрової камери:Мікроскоп 2, дзеркало 3, цифрова камера.

5) Вибір інструментів:

Окуляри: розділ 20x 10x

Об'єкт: 50X 60X 100X (масло)

Система високопіксельного зображення

Програмне забезпечення для вимірювання зображення CF-2000C

Програмне забезпечення для аналізу фізичної графіки (кількісне) CF-2000JX