Мікроскоп Nikon MA200

Використовується для мікроструктурного спостереження в матеріалознавстві, аналізу та оцінки таких матеріалів, як метали, кераміка та полімери.
Унікальний кубічний мікроскоп пропонує рішення для досліджень та розробок та контролю за забезпеченням якості в галузі, пов'язаній з автомобільними матеріалами.
Підтримка світлого поля, темного поля, диференційних втручань, флуоресценції, простої поляризації та інших спостережень, має компактну структуру, зручну експлуатацію, рівномірне освітлення, чітке зображення, енергозбереження, міцність та інші характеристики.

Основні особливості
1, конструкція куба, економія місця, висока стійкість до землетрусу
ECLIPSE MA200 економить 33% простору, ніж TME300, і ця нова конструкція більш ефективно підвищує експлуатаційність інструменту, а також зменшує пошкодження користувача від тривалого спостереження.
Необмежена оптична система корекції CFI60
Оптична система CFI60 створює чіткі, чіткі, високороздільні та висококонтрастні зображення, а також знижує спалах. Ця конструкція 1x об'єкта дозволяє спостерігати за діапазоном поля зору в діаметрі 25 мм, а також дозволяє повністю спостерігати за зразками, похованими в смолі. Темні погляди, DIC、 Також можна проводити флуоресцентні та поляризаційні спостереження. Крім того, спеціально розроблені передавальні колони дозволяють здійснювати кілька спостережень за передавальністю.
3.Зручність роботи
Часто частини, які вимагають операції, зосереджуються поблизу спостерігача, напротив мікроскопа. Наприклад: світловий апендент поля зору, апендент апертури, поляризатор, інспектор, вставка панелі і перемикач яскравого та темного поля тощо.
4 Підключення цифрових зображень
Система моніторингу перетворювача об'єкта передає інформацію про зображення, отриману об'єктом, через блоки управління цифровими камерами DS-L2 та DS-U2. Розмір зображення автоматично змінюється на комп'ютері в залежності від регулювання мікроскопічного помноження.
Ця корекція цифрового збільшення зображення здійснюється автоматично і мінімізує помилки.
Незалежний контролер дисплея типу DS-L2 (дані зображення можуть бути збережені на USB-накопичувачі),
DS-L2
Контролер з'єднання комп'ютера DS-U2, який необхідно використовувати разом з програмним забезпеченням NIS Elements.
DS-U2
Цифрова фотографія (необхідна конфігурація)
Функція сполучення NIS-Elements, програмне забезпечення Nikon для зображення, дозволяє сполучити і аналізувати великі зображення. Автоматичні вимірювання в програмному забезпеченні NIS-Elements дозволяють аналізувати частинки металу. Крім того, програмне забезпечення для вимірювання частинок Metalo та програмне забезпечення для литого заліза також дозволяє автоматично аналізувати розміри литого заліза та частинок на основі ASTM та JIS.
Використовуючи функції програмного забезпечення NIS Elements, можна здійснити безперешкодне складання мікрозображень;
Використовуючи функції програмного забезпечення NIS Elements, можна проводити аналіз матеріалів, наприклад, аналіз розміру зерен, аналіз скорості графізації чернильного літного заліза та інше.
Об'єктив Nikon MA200 CFI LU PLAN FLUOR EPI:
збільшення помножувача 5X; цифровий диаметр (NA) 0,15; Робоча відстань (W.D.) 23.5mm
збільшення помножувача 10X; цифровий диаметр (NA) 0,30; Робоча відстань (W.D.) 17.5mm
збільшення помножувача 20X; цифровий диаметр (NA) 0,45; Робоча відстань (W.D.) 4.5mm
50X збільшення; цифровий диаметр (NA) 0,80; Робоча відстань (W.D.) 1.0mm
збільшення помножувача 100X; цифровий диаметр (NA) 0,90; Робоча відстань (W.D.) 1.0mm