Мікроскоп рефлекторної поляризації XPV-203- Форнітор глобальний

Групи продуктів

Інформація про фірму

Рівень операції

Член VIP
Контакт
Телефон
Адреса

5 поверх, 2440 Пудунський проспект, Шанхай

Мікроскоп рефлекторної поляризації XPV-203

XPV-203E/XPV-203Z є найбільш поширеним професійним експериментальним інструментом в галузі геології, мінеральної промисловості, металургії, нафтохімії

Додавач контактів

Більше продуктів

Подробиці про продукт

Мікроскоп рефлекторної поляризаціїXPV-203

1. Використання:
XPV-203E/XPV-203Z є найбільш поширеним професійним експериментальним інструментом, який використовується в таких галузях, як геологія, мінеральна промисловість, металургія, нафтохімія, хімічні волокна, напівпровідникова промисловість та фармацевтичні інспекції, а також в таких галузях, як полімери, у відповідних вищих навчальних закладах. Трансрефлексивний поляризований мікроскоп може бути широким користувачем для однополяризованого спостереження, ортогонального поляризованого спостереження, конусного спостереження та мікрофотографії, спостереження за перетворенням об'єкта в стані нагрівання, зміною кольору та перетворенням об'єкта в три стани. Мікроскоп рефлексивної поляризації використовує мікрокомп'ютерне виявлення, має автоматичне регулювання P, I, D та розмитість ручної регулювання функції, через світлодіодний дисплей температури та налаштування температури, показ приладів точний, чіткий, стабільний, можна налаштувати програму контролю температури, має "верхній, нижній" автоматичний сигналізаційний пристрій, і може в будь-який час перевірити встановлені дані температури, це нове покоління температурного вимірювання та температурного контролю температури. Мікроскоп оснащений аксесуарами, такими як гіпс λ, тестовий блок λ/4, кварцеві кліни та рухомі ступенями. Цей інструмент має масштабованість і може підключатися до комп'ютерів та цифрових камер для редагування, зберігання та друку зображень. Це набір продуктів з більш повною функціональністю.

Профіль системи:

Система трансрефлексивного поляризованого мікроскопу є високотехнологічним продуктом, який досконало поєднує точну технологію оптичного мікроскопу, передову технологію оптоелектричного перетворення та передову технологію обробки комп'ютерних зображень. Трансрефлексивний поляризований мікроскоп дозволяє зручно спостерігати за динамічними зображеннями в режимі реального часу на дисплеї, а також редагувати, зберігати та друкувати необхідні зображення.

Технічні параметри:

1. окуляри

Категорія	Збільшити множення	Поле зору (мм)
Сіткові окуляри	10X	φ18
Хрестові окуляри	10X	φ18
Розділення окулярів	10X	φ18

2. Об'єкти

Мікроскоп рефлекторної поляризаціїXPV-203E

Переглянути велику карту

Мікроскоп рефлекторної поляризаціїXPV-203Z

Переглянути велику карту

Категорія	Збільшити множення	Цифровий диаметр (NA)	Робоча відстань (мм)	Товщина покриття (мм)
об'єкт	4X	0.10	7.80	-
	10X	0.25	4.70	-
	25X	0.40	1.75	0.17
	40X	0.65	0.72	0.17
	63X	0.85	0.18	0.17

Повільшення: 40X-630X Повільшення системи: 40X-2600X
4. Апертура фокусатора: NA1.2 / 0.22 кольоровий диференційний фокусатор з регульованим центром.
5. поляризація: 360 ° регулюється напрямок вібрації, з блокувальним пристроєм, переміщений світловий шлях
6. Експертне дзеркало: може бути знято з світлового шляху, діапазон обертання 90 ° вбудоване дзеркало Брюсселя, центр, фокусна відстань регулюється
7. компенсатор: λ шматки (φ18mm, червоний перший ступінь, відмінність світла 551nm) λ / 4 шматки (φ18mm, відмінність світла 147,3nm)
Кварцевий клин (12x28 мм, I-IV клас)
8. Система регулювання фокусу: з обмеженим розташуванням та регулюванням розтягувальних пристроїв, точна регуляція товщини коасі, значення сітки 0,002 мм
Джерело світла: 6V / 20W галогенні лампи (регулюється яскравість)

4, відбивальне освітлення, коасійне освітлення (також відомо як вертикальне освітлення)
Коаксіальний освітлювач, також відомий як вертикальний освітлювач, це система вертикального освітлення мікроскопу, системний коефіцієнт в 1 рази, може бути адаптований до різних моделей звичайного (160 мм довжини механічного циліндра, циліндра) мікроскопа. Мікроструктури поверхні непрозорих об'єктів можна спостерігати в якості системи відбиваючого освітлення.
Конфігурація вертикального освітлення і мікроскоп не тільки можуть проводити загальний металофазний аналіз, тестування на аналіз частинок, а також можуть аналізувати, спостерігати за неметальними непрозорими об'єктами, а також оснащені системою поляризації для спостереження за поляризацією.

V. Склад системи:

Трансрефлексивний поляризований мікроскоп (XPV-203E): 1, поляризований мікроскоп 2, коаксіальне освітлення 3, камера (CCD) 4, A / D (збір зображень) 5, комп'ютер
Мікроскоп трансрефлексивної поляризації (XPV-203Z): 1, мікроскоп поляризації 2, коасійне освітлення 4, система цифрової камери

Системи цифрового мікрозображення

Комп'ютерні системи мікрозображення

6. Вибір покупки:

Система високопіксельного зображення 2. Програмне забезпечення для аналізу поляризованого мікроскопу

Вибір лабораторії заводу	Вибір лабораторії університету
Типові приклади застосування	Описання інструменту


Якщо у вас є питання, натисніть негайно!!!

Післяпродажне обслуговування

Збірати цю сторінку

Як вибрати якісного постачальника

Інтернет-дослідження

Контакти
Компанія
Телефон
Електронна пошта
WeChat
Код перевірки
Вміст повідомлення