Член VIP
Подробиці про продукт
| Еліпсометр SpecEl-2000-VIS вимірює поляризоване світло, відображене від поверхні підложки, щоб визначити товщину та індекс рефракції матеріалу в функції довжини хвилі. SpecEl керується за допомогою ПК. Вимірювати індекс ломання, поглинання та товщину натисканням кнопки. |
Точна система "все в одному"
SpecEl містить інтегроване джерело світла, спектрометр і два поляризатори, закріплені на 70 °. Він також включає в себе ПК з 32-розрядною операційною системою Windows. SpecEl може виявити один шар тонким до 0,1 нм і товщиною до 5 мкм. Крім того, він може забезпечити індекси рефракції до 0,005 °.
SpecEl доступний для виклику за ціною.
Програмне забезпечення SpecEl та файли "Рецепт"
У програмному забезпеченні SpecEl ви можете налаштувати ізберігати файли методу експерименту для однокрокового аналізу. після створення "рецепту", ви можете вибрати рецепт для виконання експерименту.
Специфікації
| Діапазон довжини хвилі: | 380-780 нм (стандартний) або 450-900 нм (необов'язково) |
| Оптична роздільна здатність: | 4,0 нм FWHM |
| Точність: | товщина 0,1 нм; Індекс рефракції 0,005% |
| Кут захворюваності: | 70° |
| Товщина плівки: | 1-5000 нм для однієї прозорої плівки |
| Розмір плями: | 2 мм х 4 мм (стандартний) або 200 мкм х 400 мкм (необов'язково) |
| Час відбору проб: | 3-15 секунд (мінімум) |
| Кінетичний запис: | 3 секунди |
| Механічна допускність (висота): | +/- 1,5 мм, кут +/- 1,0° |
| Кількість шарів: | До 32 шарів |
| Посилання: | Не застосовується |
Інтернет-дослідження
-
Контакти
-
Компанія
-
Телефон
-
Електронна пошта
-
WeChat
-
Код перевірки
-
Вміст повідомлення
-